Gelişmiş Arama

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.authorKELLEGÖZ, Murat; ÇAKO, Hilal; UZKALAN, Seda; KÖSE, Salih
dc.date.accessioned2019-01-14T06:57:26Z
dc.date.available2019-01-14T06:57:26Z
dc.date.issued2018
dc.identifier.citationen_US
dc.identifier.urihttp://fenbildergi.aku.edu.tr/wp-content/uploads/2018/09/011103-441-450.pdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11630/5085
dc.descriptionThe influence of boron doping on the structural, surface, optical, and electrical properties of CdS films is discussed. Boron doped samples were deposited on pyrex glass slide using aqueous solution of cadmium chloride (CdCl2; 0.05 M), thiourea (CS(NH2)2; 0.05 M) and boric acid (H3BO3; 0.05 M) by ultrasonic spray pyrolysis technique at 300±5°C. Optical, electrical, structural and surface properties of the deposited thin films were studied by UV spectrophotometer, four probe technique, SEM, AFM, and XRD. XRD study shows that films are polycrystalline with preferred orientation through (011) plane for low boron in corporations. However, preferential orientation changed to (002). The grain size has increased with increasing boron concentration. The optical band gap of the undoped and boron doped CdS samples were found in the range of 2.39-2.46 eV. Grain size distribution is obtained in the range of 30.8-115.4 nmen_US
dc.description.abstractBor katkısının CdS filmlerin yapısal, yüzeysel, optik ve elektriksel özellikleri üzerindeki etkisi tartışılmıştır. Bor katkılı ince filmler, 300±5°C’de ultrasonik sprey piroliz tekniği ile kadmiyum klorid (CdCl2; 0.05M), tiyüre (CS(NH2)2; 0.05M) ve borik asit (H3BO3; 0.05M) sulu çözeltisi kullanılarak payreks cam üzerine çöktürülerek elde edilmişlerdir. Çöktürülen ince filmlerin optik, elektriksel, yapısal ve yüzey özellikleri UV spektrofotometre, dört prob tekniği, SEM, AFM ve XRD ile incelenmiştir. X-ışını kırınımı çalışması, filmlerin düşük boron katkıları için (011) düzleminde tercihli yönelmeye polikristalin olduğunu göstermektedir. Bununla birlikte, tercihli yönelme (002) olarak değişmiştir. Bor konsantrasyonu arttıkça tane boyu da artmıştır. Katkısız ve bor katkılı CdS ince filmlerin optik bant aralıkları 2.39-2.46 eV aralığında bulunmuştur. Tane boyutu dağılımı 30.8-115.4 nm aralığında elde edilmiştir.en_US
dc.language.isoengen_US
dc.identifier.doi10.5578/fmbd.67397en_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectYarı İletken Filmler; Bor Katkılı CdS Filmler; Fotovoltaik Güneş Pilien_US
dc.titleUltrasonik Sprey Piroliz Tekniği ile Depolanan Bor-Katkılı CdS Filmlerinin İncelenmesien_US
dc.title.alternativeInvestigation of Boron-Doped CdS Films Deposited by Ultrasonic Spray Pyrolysis Techniqueen_US
dc.typearticleen_US
dc.relation.journalFen ve Mühendislik Bilimleri Dergisien_US
dc.departmentAfyon Kocatepe Üniversitesien_US
dc.identifier.volume18en_US
dc.identifier.startpage441en_US
dc.identifier.endpage450en_US
dc.identifier.issue2en_US
dc.relation.publicationcategoryMakale - Ulusal Hakemli Dergi - Kurum Yayınıen_US


Bu öğenin dosyaları:

Thumbnail

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster