ORCID "0000-0003-1769-4451" 2020 için listeleme
-
Global ve bölgesel (yüksek çözünürlüklü) sayısal yükseklik modellerinin doğruluk analizi üzerine bir inceleme
Erol, Bihter; Işık, Mustafa Serkan; Erol, Serdar (Afyon Kocatepe Üniversitesi, 25.09.2020)Topografik yükseklikler birçok mühendislik uygulamasında ve yerbilimlerine ilişkin araştırmalarda kullanılmaktadır. Yüksek çözünürlüklü Sayısal Yükseklik Modelleri (SYM), günümüzde yükseklik verilerini elde etmenin en ...